牛顿环实验是一种经典的光的干涉实验，用来研究透明材料的薄膜特性以及光的干涉现象。其原理可以简述如下：
1. 光的反射：当平行光线照射到透明薄膜表面时，部分光线会被薄膜表面反射，而另一部分光线会穿透薄膜并在薄膜下表面反射。
2. 光的干涉：由于反射光和透射光在传播过程中会经历不同路径，它们会相互干涉，导致干涉条纹的出现。这些干涉条纹是由光波的相位差引起的，相位差的大小取决于入射角、薄膜厚度和光的波长。
3. 彩色环：由于不同波长的光具有不同的相位差，不同颜色的环会呈现出不同的颜色，形成了彩色的牛顿环。在中央是暗纯黑的中心，然后是一系列彩色的明暗环。
4. 利用干涉条纹测量薄膜特性：通过观察和测量牛顿环的半径和颜色，可以确定薄膜的厚度以及透明材料的折射率。这是一种非常有用的方法，用于测量微薄膜和光学元件的特性。
总之，牛顿环实验利用光的反射和干涉现象，通过观察干涉条纹来研究薄膜的性质和光学特性。这个实验在光学和材料科学中有广泛的应用，用于测量薄膜的厚度、折射率等参数。
1.测量依据：JJG178-1996可见分光光度计检定规程。
3.测量标准：氧化钬滤光片或干涉滤光片。
4.被测对象：可见分光光度计。
5.测量方法： 在规定的条件下，用被测可见分光光度计直接测氧化钬滤光片或干涉滤光片，测得的吸收峰波长，重复测量3次，3次的算术平均值与标准波长之差值，既为波长示值误差。
6.评定结果的使用：在符合上述条件下的测量结果，对光栅型可见分光光度计一般可直接使用本中用氧化钬滤光片测量标准所得的不确定度的评定结果。
光干涉是当两列光波在空间相遇时，某些区域的光振动加强，某些区域的光振动减弱，形成明暗相间的条纹的现象。
要产生干涉现象，必须有两个振动情况总是相同的相干光源发出的光互相叠加。
在双缝干涉实验中，光屏上某点到相干光源的路程之差为光程差，记为 ，若光程差是波长λ的整倍数，即（n=0，1，2，3…），则出现亮条纹；若光程差是半波长的奇数倍（n=0，1，2，3…），则出现暗条纹。
在双缝干涉实验中，如果遮闭其中一条缝，则在屏上出现的条纹会由双缝干涉条纹演变为单缝衍射条纹，与干涉条纹相比，这时单缝衍射条纹亮度要减弱，而且明纹的宽度要增大。