因为计数型测量系统不能获得被测量参数的值，在实施测量系统分析时，稳定性分析往往成为被忽略的一个项目。但有些计数型测量系统其实也可以采用控制图来分析其稳定性。

1. 稳定性分析所使用的控制图

用计数型测量系统进行测量时，可以分为两种情况：

1) 对被测量对象进行分类，例如合格/不合格，一等品/二等品/三等品，等等

2) 对被测量对象进行计数，例如表面上存在多少个缺陷，一年发生了多少次火灾，等等

对于第一种情况（以判定合格/不合格为例），可以通过选择一批零件作为样本，每次检测后统计这批零件中的不合格数或者不合格率，将这个数值绘制成控制图来监控它是否在控制限范围内。这种情况应该选择p或np控制图。

对于第二种情况（以判定表面上存在多少个缺陷为例），可以选择一个或者一批零件作为样本，每次检测后统计这批零件表面的缺陷数量或者缺陷密度，将这个数值绘制成控制图来监控它是否在控制范围内。这种情况应该选择u或c控制图。

2. 注意事项

按照上面所讨论用控制图分析测量系统的稳定性时，需要注意：

1) 当检测为人工检测时，需要在每次检测时避免测量人员因记得上次的检测结果而影响他的判定。为此，每次检测时，应按随机的顺序将零件交给测量人员，不能让测量人员看到零件编号，并且告诉测量人员零件的测量顺序是随机的，从而确保每次检测时测量人员的判定是不受以前的检测结果干扰的。这个要求对于上面讨论的第一种情况比较容易做到（只要每个零件在外观上不存在太明显的差异），但对于第二种情况则不容易做到，因为检测了几次后，检测人员很容易就记住每个零件中它认为的缺陷位置和数量了。所以对于用人工检测来检测缺陷数量或密度的情况，利用u或c控制图来进行稳定性分析理论上可行，但事实上并不可行。

2) p或np图的控制限是将二项分布用正态分布近似后计算的控制限，为满足这个前提条件，所选择的样本应满足 np≥5 。而u或c图的控制限是将泊松分布用正太分布近似后计算的控制限，为满足这个前提条件，选择的样本应满足 c=0 零件数很少。